Zameranie

Hlavným zameraním oddelenia je skúmanie mikroštruktúry a chemických vlastností kovových a keramických materiálov s využitím svetelnej a elektrónovej mikroskopie, difrakčných a chemických metód. Oddelenie kooperuje s univerzitami, výskumnými organizáciami a priemyselnými subjektmi na národnej a medzinárodnej úrovni. Zvláštnu pozornosť venuje regiónu Východného Slovenska.

Skúšky

V laboratóriu sa pripravujú preparáty z práškových a kompaktných materiálov - kovy, keramika a kompozity pre skúmanie a analýzy: 

• mikroštruktúra a morfológia prostredníctvom svetelnej a elektrónovej  mikroskopie 
• veľkosť zrna/kryštalitov, vnútorných napätí
• meranie tvrdosti, mikrotvrdosti
• kvalitatívna a kvantitatívna EDS a AAS  chemická analýza
• IČ, DSC a DTA analýzy
• vývoj analytických chemických metód 
• chemické syntézy materiálov
• fázové zloženie a kryštalografická orientácia s využitím  EBSD a TEM
• rentgenová prášková difrakcia
• meranie elektrických vlastností
• povlakovanie kovov a keramiky PVD metódou
• analýzy porušovania materiálov, fraktografia
  
  

  

Príprava vzoriek

Metalografické výbrusy pre pozorovanie mikroštruktúry sa pripravujú následovnými technikami:
• mechanickým brúsením a leštením kovových a keramických vzoriek

                    Automatická brúska a leštička

• elektrochemickým leštením

                          Elektrolytická leštička

• iónovým leštením kovových a keramických materiálov

                                Iónová bombardovačka

Svetelná mikroskopia

Je využívaná na štúdium mikroštruktúry pre objekty s veľkosťou do 1 mikrometra.  Možnosť pozorovania objektov v svetlom, tmavom poli,  polarizovanom svetle, Nomarski kontrast. Výstup v digitálnej forme.

                  Svetelný mikroskop Olympus GX 71

          Svetelný mikroskop Neophot 32



                  Mikrotvrdomer Leco

Rastrovacia elektrónová mikroskopia

Rastrovacia elektrónová mikroskopia (SEM) poskytuje informácie o mikroštruktúre, morfológii, o chemickom a fázovom zložení skúmaných objektov aj pod 1 mikrometer. Kombinácia rastrovacieho elektrónového mikroskopu Jeol JSM 7000F s analytickými jednotkami EDX a EBSD Oxford Instruments poskytuje unikátne informácie o maeteriáli až pri 100 000-násobnom zväčšení. 

          Rastrovací elektrónový mikroskop Jeol JSM 7000F

Pre bežnú prax sa využíva zariadenie SEM Tesla BS 340 s EDX analyzátorom, ktorý umožňuje skúmanie mikroštruktúry materiálu pri 20 000-násobnom zväčšení.

Informácie  zo SEM môžu byť zobrazené ako spektrum, ako číselné dáta a ako bodové, čiarové alebo plošné EDX analýzy umožňujúce určiť distribúciu jednotlivých prvkov v skúmanom materiáli. 

Transmisná elektrónová mikroskopia 

Transmisná elektrónová mikroskopia (TEM) umožňuje pozorovanie tenkých preparátov pri veľmi vysokom rozlíšení. Laboratórium je vybavené TEM Tesla BS 500 s urýchľovacím napätím 90 kV. 
Infromácie o morfológii, mikroštruktúre, fázovom a chemickom zložení sa získavajú kombináciou optického zobrazenia, elektrónovej difrakcie a EDX analýzami. 


        Transimsný elektrónový mikroskop Tesla BS 500

                             Naparovačka

Rentgenografické laboratórium

Poskytuje cenné kryštalografické údaje v širokom spektre materiálov. Umožňuje určiť fázové zloženie látok, zastúpenie prítomných fáz v materiáli, veľkosť kryštalitov a makro/mikronapätí. Merania môžu byť vykonané aj pri vyšších teplotách v ochrannej atmosfére alebo vo vákuu.
Laboratórium je vybavené difraktometrom Philips X`Pert Pro, ako i starším typom difraktometra Mikrometa 2a.

             Analytický difraktometer Philips X`Pert Pro

Vysokoteplotná komora pre in-situ rtg. merania

Chemické laboratórium

Hlavnou činnosťou laboratória je vývoj nových analytických metód, poskytuje prvkovú chemickú kvalitatívnu a kvantitatívnu analýzu. Rozvíja syntézy nových anorganických materiálov.

Termický DTA-DSC-TG analyzátor série Jupiter STA 449-F1 od firmy NETZSCH. Zariadenie určené pre analýzy fáz a kinetiky fázových premien v anizotermických podmienkach v rozsahu teplôt od 20ºC do 1650ºC. Prístroj je zakúpený v rámci projektu "Technológia prípravy elektrotechnických ocelí s vysokou permeabilitou určených pre elektromotory s vyššou účinnosťou" ITMS 26220220037. 

           

Iónová rezačka 682 PECS od spoločnosti Gatan, Inc. Pristroj je určený pre rezanie, leptanie a povlakovanie vzoriek pomocou iónového lúča. Iónová rezačka sa používa na prípravu vzoriek pre ELMI analýzy. Prístroj taktiež slúži na nanášanie rôznych vodivých prvkov na povrch vzoriek určených pre SEM, TEM a EBSD analýzy. Prístroj je zakúpený v rámci projektu "Centrum výskumu účinnosti integrácie kombinovaných systémov obnoviteľných zdrojov energií" ITMS 26220220064.

         

Elektrolytická leštička LectroPol-5 od firmy Struers. Zariadenie určené pre prípravu vzoriek pre SEM, EBSD analýzy, pomocou elektrolytického leštenia/leptania v elektrolyte. Plne automatické, procesorom riadené zariadenie so zabezpečením externého leštenia spolu s termostatom pre prácu v rozsahu teplôt od -70 do 200°C. Prístroj je zakúpený v rámci projektu "Technológia prípravy elektrotechnických ocelí s vysokou permeabilitou určených pre elektromotory s vyššou účinnosťou" ITMS 26220220037.